Ntegra Spectra II - Sisteme AFM-Raman-Nano-IR

AFM versatil de înaltă performanță Acces optic din partea de sus, lateral și de jos, optimizat pentru Raman, TERS și SNOM Design optic flexibil care oferă orice combinație de configurații de excitație/colecție Alinierea automată a laserului AFM, sondei și fotodiodului Schimbare prietenoasă a lungimii de undă a sistemului de înregistrare AFM și fotodiodului Schimbare ușoară și prietenoasă a obiectivelor Integrare cu IR sSNOM (opțional) Din 1998, NTMDT a integrat cu succes AFM cu tehnici de microscopie și spectroscopie optică. Peste 30 de moduri de bază și avansate AFM, inclusiv HybriD ModeTM, sunt suportate, oferind informații extinse despre proprietățile fizice ale suprafeței probei. Integrarea AFM cu microscopie confocală Raman/fluorescență oferă cea mai largă gamă de informații suplimentare despre probă. Hărțile AFM și Raman măsurate simultan ale aceleași zone de probă oferă informații complementare despre proprietățile fizice ale probei (AFM) și compoziția chimică (Raman). Rezoluție spațială limitată de difracție:<200 nm în XY, <500 nm în Z (cu obiectiv de imersie) AFM de înaltă performanță cu zgomot redus: zgomot Z<0.1 nm (RMS în banda de frecvență 10‑1000 Hz) Grating Echelle cu dispersie ultrahigh; rezoluție spectrală:0.007nm (< 0.1 cm‑1) Spectroscopie Raman cu număr de undă scăzut/THz:<10 cm-1 cu filtre de volum Bragg Obiective interschimbabile cu monturi cinemative:precizie <2 µm Scanare duală:scanare prin probă ȘI scanare prin punct laser (pentru cartografierea Hot Spot în TERS) Toate geometrile TERS existente sunt disponibile:iluminare/colecție din partea de jos, din partea de sus sau din lateral