Leica EM TXP

Leica EM TXP este un instrument unic pentru pregătirea probelor, dezvoltat special pentru frezarea, tăierea, șlefuirea și polizarea probelor înainte de o examinare prin REM (microscop electronic cu scanare), TEM (microscop electronic de transmisie) sau LM (microscop optic). Datorită unui microscop stereo integrat, chiar și țintele greu de recunoscut pot fi localizate cu precizie și preparate fără probleme. Cu ajutorul brațului de rotire a probei, proba poate fi observată direct sub un unghi între 0° și 60° sau 90° - în raport cu partea din față - iar distanța poate fi determinată cu ajutorul plăcii de reticul.