Ntegra Marlin - Caracteristici

AFMSICMRaman sinergie triplă a tehnicilor puternice de nano-caracterizare Mod de hopping al microscopiei de conductanță ionică imaging non-contact al celulelor vii și suprafețelor de jeleu Puterea QNM a studiilor nanomecanice cantitative AFM și SICM Smart Patch Clamp țintire automată a nanopipetelor pentru studii ale canalelor ionice Cartografiere de mare viteză, pe distanțe lungi, cu rezoluție înaltă la scară nanometrică Nanoinjecție, nanopipete cu control de feedback SICM pot fi utilizate pentru injecții locale subpicolitru în celule individuale SICM (Microscopie de Conductanță Ionică de Scanare) este o tehnică SPM care folosește nanopipete (electrozi de sticlă ascuțiți) pentru cartografierea 3D non-contact a suprafeței cu rezoluție înaltă. În SICM, distanța între sondă și probă este controlată prin scăderea curentului ionic care curge prin vârf, pe măsură ce se apropie de suprafața probei. Biophys.Journ. 73, 653658 Controlul poziției: senzori capaciți în buclă închisă pe axele X, Y, Z Interval de deplasare XY: 30×30 μm (opțional până la 100×100 μm) Interval de deplasare Z: 25 μm Precizia poziției Z: 0.1 nm Aplicații: SICM (mod de hopping), SECM, Smart Patch-Clamp, Microinjecție, QNM, cartografiere pH Timp tipic de achiziție a imaginii: mai puțin de 5 minute (depinde de numărul de puncte și de rugozitatea probei) AFM de înaltă performanță, zgomot redus: zgomot Z <0.1 nm (RMS în banda de frecvență 10-1000 Hz) Aplicații AFM: toate modurile standard de imaging AFM (40+), spectroscopie forță-distanță Rezoluție spațială limitată de difracție: <200 nm în XY, <500 nm în Z (cu obiectiv de imersie) Grating Echelle cu dispersie ultrahigh; rezoluție spectrală: 0.007 nm (<0.1 cm-1) Optica cu cea mai înaltă rezoluție posibilă este utilizată simultan cu AFM/SICM: până la 1.45 NA Scanare duală: scanare prin probă ȘI scanare prin punct laser (pentru cartografierea Hot Spot în TERS)