Leica EM TXP – Sistem de Suprafață a Țintei

Dispozitivul de pregătire a țintelor Leica EM TXP este destinat frezării, tăierii, pulverizării și polizării probelor înainte de examinarea prin microscopie electronică de transmisie (TEM) și microscopie electronică de scanare (SEM), precum și prin tehnicile de microscopie optică (LM). Un stereomicroscop integrat permite localizarea și pregătirea cu ușurință a țintelor abia vizibile; cu brațul rotativ, proba poate fi observată direct la un unghi cuprins între 0° și 60°, sau 90° în raport cu fața frontală, pentru a determina distanța cu ajutorul unui reticul ocular.